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Tps2000
Tektronix
ha presentato la sua nuova gamma di oscilloscopi digitali portatili alla 31°edizione del Bias di Milano (...)

ScopeMeter Serie 190
La potenziata funzionalità di misura e analisi degli oscilloscopi palmari ScopeMeter Serie 190 di Fluke Corporation (...)

Sonde per oscilloscopi da 500 MHz
E' di Pomona Electronics la nuova serie di sonde per oscilloscopi Microline progettata per sveltire e semplificare le prove sui circuiti ad alta frequenza e alta densitą in spazi ristretti. (...)

Nuovi oscilloscopi Infiniium
Agilent Technologies ha presentato tre oscilloscopi Infiniium di fascia media con profonditą di memoria MegaZoom e innumerevoli funzioni da 600 MHz a 1 GHz, destinati ad accelerare le attivitą di ricerca e sviluppo nei settori delle telecomunicazioni (...)

Tester di isolamento digitale
Fluke Europe, l'organizzazione europea di vendita e servizi di Fluke Corporation, leader mondiale nel campo degli strumenti elettronici professionali compatti, ha presentato il tester di isolamento MegOhmMeter Fluke1550 (...)

Oscilloscopio Infiniium
Con la sua larghezza di banda di 2,25 GHz, il  modello 54846A amplia la famiglia degli oscilloscopi Infiniium Agilent; offre infatti una larghezza di banda incrementata del 50% rispetto a quella dell'attuale 54845A a 1,5 GHz, ad un costo maggiore solo del 10% circa (...)

Oscilloscopi ai fosfori digitali
Tektronix Inc ha recentemente annunciato lo sviluppo di una nuova serie innovativa di oscilloscopi di fascia intermedia (...)

Oscilloscopi DPO
Il TOS7404, con 4-GHz di banda passante, č uno strumento particolarmente adatto alle misure di integritą del segnale per la verifica e il test alle alte frequenze nel broadcasting digitale (...)>>

Multimetri Fluke
Fluke ha introdotto la nuova serie 180 composta di quattro multimetri dedicati alle misure nelle fasi di gestione del processo produttivo (...)>>

Sistemi di test per il collaudo

Advantest, societą che produce apparecchiature di collaudo automatiche (ATE - Automatic Test Equipment) ha reso disponibile una linea di sistemi di test per il collaudo in volumi di MCU, ASIC e SoC. (...)>>


 



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